• TTL调制半导体激光器、光电二极管接收光强、锁相放大器采集信号
• 极高的灵敏度
• 光学器件高度集成化
• 用户操作简单、安装样品微调样品杆、即可得到克尔信号
• 集成磁光克尔效应测量和磁畴显微镜观测、显微分辨率为5um
• 单点磁滞回线、纵向、横向和极向克尔效应测试
• 区域扫描、上下左右精细移动样品、可测试样品表面不同点的磁光克尔效应
• 三百六十度旋转样品或磁场、可判断材料磁化难易轴并测试各向异性
• 集成高速CCD和显微系统、可观查材料表面形貌
• 加入检偏器后能检测出偏振态随着磁场变化而引起的光斑强度的分布不同、从而得到磁畴
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